Critical Phenomena in Loop Models bei Mercateo günstig kaufen

Produktinformationen

Artikel-Nr.:
5667A-9783319360638

Hersteller:
Springer Verlag

Herst.-Nr.:
9783319360638

EAN/GTIN:
9783319360638

Suchbegriffe:

Physik- und Astronomiebücher - engl...
Physik-, Astronomiebücher
Physik-Bücher
physik-, astronomiebücher

Critical Phenomena in Loop Models

Weitere Informationen:


Author:	Adam Nahum
Verlag:	Springer International Publishing
Sprache:	eng

... > Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik > Physik, Astronomie > Astronomie

Weitere Suchbegriffe: CP^{n-1} Model, Completely-packed Loop Model, Deconfined Criticality, Fractal Geometry, Loop Gas, Loop Models, Polymer Collapse, Random Geometry, Replica Field Theory, Replica Sigma Model, Self-avoiding Trails