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Kelvin Probe Force Microscopy


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Produktinformationen
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Artikel-Nr.:
     5667A-9783319756868
Hersteller:
     Springer Verlag
Herst.-Nr.:
     9783319756868
EAN/GTIN:
     9783319756868
Suchbegriffe:
Physik- und Astronomiebücher - engl...
Physik-, Astronomiebücher
Physik-Bücher
physik bücher
From Single Charge Detection to Device Characterization
Weitere Informationen:
Author:
Sascha Sadewasser; Thilo Glatzel
Verlag:
Springer International Publishing
Sprache:
eng
Weitere Suchbegriffe: Chemie, Chemie / Technik, Werkstoffe, Berufe, Industrie, Chemie (physikalisch), Physik / Chemie, Physikalische Chemie, Experiment, Versuch, Fertigungstechnik, Forschung (naturwissenschaftlich), Massenspektrometrie - Spektrometrie, Materialprüfung
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