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| Artikel-Nr.: 5667A-9783839617472 Herst.-Nr.: 9783839617472 EAN/GTIN: 9783839617472 |
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![](/p.gif) | Kenntnisse und Wissen über Anwendungsmöglichkeiten, Leistungsfähigkeit und Grenzen moderner Mess- und Prüftechnik mit Bildverarbeitung sind eine wichtige Voraussetzung für den erfolgreichen Einsatz dieser Systeme und Technologien in der industriellen Fertigung und Qualitätssicherung. Die Leitfaden-Reihe des Fraunhofer Geschäftsbereichs Vision will hierzu einen Beitrag leisten. Jährlich erscheint ein Band zu einem relevanten Themenkomplex aus dem Gebiet der Bildverarbeitung, in dem der jeweilige Stand der Technik allgemeinverständlich und anschaulich dargestellt wird. Potenziellen Anwendern soll damit der erste Einstieg in die Thematik erleichtert werden. Nun wird der "Leitfaden zur optischen 3D-Messtechnik" als aktualisierte und erweiterte Neuauflage herausgegeben. Behandelt werden Verfahren und Methoden wie Streifenprojektion, Lichtschnitt oder Weißlichtinterferometrie und es werden Hinweise zu Software und Algorithmik gegeben. Im Anschluss werden typische Einsatz- und Anwendungsfelder der optischen 3DMesstechnik vorgestellt, insbesondere für die Qualitätssicherung in der Fertigung. Ein Überblick über Normen und Richtlinien rundet den Leitfaden ab. Weitere Informationen: ![](/p.gif) | ![](/p.gif) | Author: | Michael Sackewitz; Reinhard Danzl; Dirk Berndt; Alexander Bertz; Jan Burke; Frank Boochs; Daniel Carl; Thomas Dunker; Ira Effenberger; Markus Fratz; Enno Hachgenei; Maik Groneberg; Carina Gutmann; Tina Haase; Matthias Hauptvogel; Michael Heizmann; Stefan Heist; Franz Helmli; Peter Hornberger; Martin Hünermund; Stefan Kasperl; Manuel Kaufmann; Fabian Keil; Günther Kostka; Christian Kludt; Thomas Längle; Thomas Luhmann; Ulrich Neuschaefer-Rube; Gunther Notni; Jean-Jacques Ponciano; Alexander Reiterer; Annelie Schiller; Tobais Schmid-Schirling; Oliver Scholz; Lars Seifert; Tobias Seyler; Daniel Sopauschke; Özgür Tan; Erik Trostmann; Andreas Ulm; Ralf Warnemünde; Kerstin Zangl; Fabian Zechel; Max Riediger; Artur Schütz; Wilfried Bauer; ,Enno Hachgenai | Verlag: | Fraunhofer Verlag | Sprache: | ger |
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![](/p.gif) | Weitere Suchbegriffe: Materialprüfung, Fertigungstechnik, Kontrolle (wirtschaftlich) / Qualitätskontrolle, Qualitätskontrolle, Intelligenz / Künstliche Intelligenz, KI, Künstliche Intelligenz - AI, Bildbearbeitung, Bildverarbeitung, Grafik (EDV) / Bildverarbeitung, Fraunhofer IIS |
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