Sauter TE 1250-0.1FN Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm

Sauter TE 1250-0.1FN Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm

Schichtdickenmessgerät TE 1250-0.1

F- oder N-Messungen
Offset-Accur 1%
Externe Messköpfe für F- und N-Messungen

Das TE 1250-0.1 ist ein Kombinationsmessgerät mit externen Messköpfen für nicht-ferro- und ferromagnetische Untergründe und überzeugt durch seine hohe Präzision und umfangreicher Ausstattung.

Ausstattung:
Kalibrierfunktion · Externe Messköpfe · Wählbare Einheiten: µm, inch (mil) · Offset-Accur · Auto-Power-Off-Funktion · RS-232-Schnittstelle.

Technische Daten:
Anzeige (Messgeräte): LCD · Auflösung (Messgerät): 0.1 µm · Betriebsspannung (Details): 4 Micro-Batterien (Typ AAA) · Genauigkeit: 3 % · Gewicht: 81 g · Messart: eisenhaltige Substrate,nicht eisenhaltige Substrate · Messbereich (max.): 1250 µm · Messbereich (min.): 0 µm · Messmethode: Ultraschall,Wirbelstrom · Produktabmessung, Breite: 65 mm · Produktabmessung, Höhe: 28 mm · Produktabmessung, Länge: 131 mm · Weitere technische Daten: Kleinste Messfläche: 6 mm · Min. Stärke des Messmaterials: 0,3 mm · Zifferhöhe (Details): 10 mm · kalibriert: Werksstandard (ohne Zertifikat)

Lieferumfang:
Tragekoffer · 2 externe Messköpfe · 2 Nullplatte (Aluminium und Eisen) · Distanzfolien · 3 Batterien (Typ AAA) · Bedienungsanleitung.